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課程重點
這門課程在為期四個星期的麻省理工學院自由活動月 (IAP)中進行，從一月的第一周直到月底。本網頁包括詳細的課堂講稿、幻燈片、作業集和測驗。
This course is offered during MIT's Independent Activities Period (IAP) -- a special 4-week term at MIT that runs from the first week of January until the end of the month. The web site includes detailed lecture notes, slides, problems sets, and a quiz.
課程描述
利用包含ZAF基體修正的電子探針，介紹X射線顯微分析的理論。將要討論的技術包括︰波長和能量色散譜，掃描背散射電子，二次電子，陰極射線磷光和X射線成像。實驗部分包括電子探針的實際操作。
Introduction to the theory of x-ray microanalysis through the electron microprobe including ZAF matrix corrections. Techniques to be discussed are wavelength and energy dispersive spectrometry, scanning backscattered electron, secondary electron, cathodoluminescence, and X-ray imaging. Lab sessions involve hands-on use of the electron microprobe.
本課程是為大學部學生提供學分，但是也歡迎對深入討論定量X射線分析感興趣的人參加。學生要求完成實驗室操作才能獲得學分。Offered for undergraduate credit, but persons interested in an in-depth discussion of quantitative x-ray analysis are invited to participate. Students will be required to complete lab exercises to obtain credit.
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講師：
Nilanjan Chatterjee 博士
Timothy Grove 教授
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| 上課時數 |
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教師授課：
2週內4節課
每節4小時
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| 程度 |
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Undergraduate / Graduate
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原文聲明 |
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