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12.141 2003一月(自由活动月)课程:电子探针微量分析(Electron Microprobe Analysis, January (IAP) 2003)


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审定:无
翻译:肖睿娟(简介并寄信)
编辑:陈盈(简介并寄信)


Picture of the JEOL JXA-733 Superprobe; the electron microprobe at MIT.
日本电子JXA-733型(JEOL JXA-733 超级探针);麻省理工学院的电子探针。(图为麻省理工学院的电子探针设备

The JEOL JXA-733 Superprobe; the electron microprobe at MIT. (Image courtesy The MIT Electron Microprobe Facility.)

课程重点

这门课程在为期四个星期的麻省理工学院自由活动月(IAP)中进行,从一月的第一周直到月底。本网页包括详细的课堂讲义幻灯片作业集测验

This course is offered during MIT's Independent Activities Period (IAP) -- a special 4-week term at MIT that runs from the first week of January until the end of the month. The web site includes detailed lecture notes, slides, problems sets, and a quiz.

课程描述

利用包含ZAF基体修正的电子探针,介绍X射线显微分析的理论。将要讨论的技术包括:波长和能量色散谱,扫描背散射电子,二次电子,阴极射线磷光和X射线成像。实验部分包括电子探针的实际操作。

Introduction to the theory of x-ray microanalysis through the electron microprobe including ZAF matrix corrections. Techniques to be discussed are wavelength and energy dispersive spectrometry, scanning backscattered electron, secondary electron, cathodoluminescence, and X-ray imaging. Lab sessions involve hands-on use of the electron microprobe.

本课程是为大学部学生提供学分,但是也欢迎对深入讨论定量X射线分析感兴趣的人参加。学生要求完成实验室操作才能获得学分。

Offered for undergraduate credit, but persons interested in an in-depth discussion of quantitative x-ray analysis are invited to participate. Students will be required to complete lab exercises to obtain credit.
师资
讲师:
Nilanjan Chatterjee 博士
Timothy Grove 教授
上课时数
教师授课:
2周内4节课
每节4小时
程度
Undergraduate / Graduate
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原文声明

 
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